トップページ > 検査・計測装置 > 「スルーホール検査装置」製品一覧 > TC-7500 シリーズ

スルーホール検査装置

スルーホール検査装置

VIP シリーズ スルーホール検査装置。
ファインスルーホールを高速、高精度でパーフェクトスキャン。


TC-7500 シリーズ

VIP シリーズ スルーホール検査装置

特長

  • ピンホール、微小穴、高密度スルーホールのパーフェクトチェック。(検査条件により、マルチカメラ、分割取り込み等対応可能)
  • 複数種のスルーホールを、並列処理により高速判定。
  • 検査データをファイル登録可能で、品種換え時の素早い対応。
  • 不良穴位置のズーム拡大表示を標準装備し、不良穴のリペアー
    が可能。
  • 直径換算機能により、穴直径の公差による判定ができます。
  • 良品基板マスター比較検査に加え、CADデ-タをマスターにしての検査が可能。
  • その他、詳しくは、「製品概要」ページをご覧ください。

用途

  • 半導体セラミック・パッケージ用グリーンシートのビアホール検査。
  • アルミナ・サブストレート、グリーンシートのビアホール検査。
  • メタルマスク、リードフレームなどの薄板検査。
  • レーザー、エッチング、メッキ法加工などによる金属板の極小穴検査。
  • PGA,BGA,CSP,FCP など電子基板の各種検査。

製品写真

VIP シリーズ スルーホール検査装置

TC-7500 シリーズ

型式・仕様

型式 TC-7500 TC-7500-XY TC-7500APC-XCCD
使用イメージセンサ CCDラインセンサ
画素数 7500bit/Line 7500bit/Line 7500bit/Line×最大10個
最小測定径 画幅 35mm 0.03mm
画幅 100mm 0.1mm
画幅 150mm 0.15mm
最大読取り穴数 100万穴 200万穴
演算時間 画像取得後 0.1S~1S (カメラ1台の場合)
対象基板(検査エリア) 300mm以下 600mm以下 650mm以下
検査内容 穴数、穴面積 穴数、穴面積、穴形状、位置
検査方式 CCD カメラによる光学的スキャン方式
光学系 マクロレンズ テレセントリックレンズ
スキャン駆動方式 コンベア ボールねじ + サーボモータ リニアサーボ + リニアゲージ

注意

ご使用の前に必ず取扱説明書をよくお読みのうえ、正しくお使いください。

スルーホール検査装置についてのお問合せ先

  • 名古屋事業所(制御システム部) 〒465-0025 愛知県名古屋市名東区上社4-140 電話:052-703-0311  FAX:052-703-0327

カタログ請求・お問い合わせフォーム